本書完整介紹發明及新型專利侵權判斷之理論及實務，內容充實深入，包括解釋請求項、文義侵權、均等侵權、均等論之限制事項、特殊態樣請求項之侵權判斷及專利侵權之抗辯等。
在每個主要議題中，除了介紹國際上有關專利侵權判斷之規範及實務，包括美國、英國、德國、日本、中國大陸、歐洲專利公約、實質專利法條約等，另外比較其間之異同點，探討相關理論及實務問題。針對重要規範，並引述相關出處及重要內容，主要為美國法院相關判決，以利參考。
本書適用對象廣泛，舉凡專利從業者（專利師、專利代理人、專利工程師、律師、智財及法務人員）之訴訟實務及研究參考，法院相關人員之審案參考，大專院校專利系所之課程教材等，皆可各取所需。
專利侵權判斷
內容描述
目錄大綱
序
第一篇 台灣專利侵權判斷規範之演進
第一章 第一次修訂／3
第二章 第二次修訂／6
第二篇 專利侵權判斷流程
第一章 1996年版「鑑定基準」流程圖／13
第二章 2004年版「要點」流程圖／14
第三章 2016年版「要點」流程圖／15
第三篇 解釋請求項（claim interpretation）
第一章 解釋請求項之基本觀念／26
第二章 該發明所屬技術領域中具有通常知識者／37
第三章 解釋請求項之國際規範／50
第四章 解釋請求項之原則／82
第五章 解釋請求項之一般情形／103
第六章 不同態樣請求項之解釋／116
第四篇 文義侵權（literal infringement）
第一章 文義讀取與文義侵權／193
第二章 台灣侵權判斷流程中有關「文義讀取」的演變／200
第三章 限縮文義範圍之考量因素／201
第四章 「實施先前技術」可否用於抗辯文義侵權？／203
第五章 「申請歷史禁反言」可否用於抗辯文義侵權？／205
第六章 逆均等論（reverse doctrine of equivalents）／206
第五篇 均等侵權
第一章 均等論之由來／221
第二章 國際組織對於均等論之調和／223
第三章 各國有關均等論之發展及規範／228
第四章 均等論之判斷／267
第五章 均等侵權之實務問題／292
第六篇 均等論之限制事項
第一章 基本觀念／299
第二章 全要件原則（all-elements rule/all-limitations rule）／303
第三章 申請歷史禁反言（prosecution history estoppel）／316
第四章 先前技術阻卻／344
第五章 貢獻原則／355
第六章 請求項破壞原則（claim vitiation doctrine/claim vitiation rule）／375
第七章 特定排除原則（specific exclusion principle）／388
第七篇 特殊態樣請求項之侵權判斷
第一章 手段／步驟功能請求項／403
第二章 數值請求項／410
第八篇 專利侵權之抗辯
第一章 專利無效抗辯／469
第二章 現有技術抗辯／481
第三章 非商業目的之未公開行為抗辯／497
第四章 研究或實驗抗辯／499
第五章 先用權抗辯／502
第六章 臨時過境抗辯／509
第七章 善意被授權人抗辯／511
第八章 權利耗盡抗辯／513
第九章 復權公告前善意實施或準備者抗辯／517
第十章 醫藥品研究試驗抗辯／518
第十一章 混合醫藥品抗辯／522
第九篇 結 語／525
作者介紹
作者簡介
張仁平
學 歷
台灣大學化工碩士
經 歷
1980年至1981年任職南亞塑膠公司副工程師
1981年至1984年任職大學及技術學院化工系講師
1984年進入經濟部中央標準局（智慧財產局前身），擔任專利審查委員、化工（含化學、醫藥、生技）審查組組長
2000年第一屆經濟部專利審查官特考及格，擔任經濟部智慧財產局專利助理審查官、審查官、審查基準科科長、化工審查科科長、高級審查官、副組長、研究員
擔任專利審查基準小組召集人、專利侵權判斷要點小組召集人，負責完成發明專利審查基準、發明專利侵權判斷要點
擔任專利審查品質管理小組召集人，負責提升專利審查品質
美國專利商標局訪問學者，日本特許廳、歐洲專利局（EPO）研習，世界智慧財產組織（WIPO）、英國專利局、法國工業財產局、荷蘭專利局考察
智慧財產法院專利侵權判斷講座、智慧財產培訓學院種籽師資培訓班講師、大學、協會、機關、廠商等專利專題講座
